Optonor 向全球客户交付了 100 多套系统，已成为基于激光的干涉测量系统的领先制造商，用于振动分析、静态挠度测量和无损检测。


我们的 MEMSMap 510 用于分析 MEMS 和微结构以及换能器，可以执行高达 240 MHz 的全场测量，而 Vibromap 1000 电视全息 (ESPI) 系统可以分析从亚厘米到米大小的结构。用于大型和小型结构无损检测的 SNT 410 系统甚至可以在近海环境中检测纳米范围内的振动。
光电历史：
自 1970 年代以来，包括 SINTEF 和挪威科技大学 (NTNU) 在内的特隆赫姆集团一直是基于激光的计量学研究和开发的领先环境。特隆赫姆集团自 1984 年开始提供商业系统，1997 年 Optonor AS 公司成立。


自那时起，Optonor 已为各种应用和客户开发、制造和交付了 100 多个系统。
选配服务：
• 用于研发的交钥匙系统
• 产品开发、生产监控和质量控制的可行性研究和量身定制的解决方案
• 计量服务和咨询
应用实例：
• 复合材料和金属的无损检测
• MEMS 和微观结构分析
• 振动和模态分析
• 表面形貌